Articles liés à CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED...

CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST) - Couverture souple

Livre 21 sur 36: Frontiers in Electronic Testing
 
9788132202325: CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST)
Couverture souple
ISBN 10 : 8132202325 ISBN 13 : 9788132202325

Synopsis

Brand New

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Langue
anglais
ISBN 10 
8132202325
ISBN 13 
9788132202325
Reliure
Broché
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible