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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair - Couverture souple

 
9789048181124: Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair

Synopsis

Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.

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À propos de l?auteur

Winner of the EDAA (European Design Automation Association) Outstanding Monograph Award in the Verification section. Co-authors Bertacco and Markov are existing Springer authors

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9781402093647: Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair

Edition présentée

ISBN 10 :  1402093640 ISBN 13 :  9781402093647
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2008
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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2010
ISBN 10 : 9048181127 ISBN 13 : 9789048181124
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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Kai-hui Chang|Igor L. Markov|Valeria Bertacco
Edité par Springer Netherlands, 2010
ISBN 10 : 9048181127 ISBN 13 : 9789048181124
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu. N° de réf. du vendeur 5821942

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Kai-Hui Chang
ISBN 10 : 9048181127 ISBN 13 : 9789048181124
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 224 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048181124

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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2010
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. N° de réf. du vendeur 9789048181124

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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2010
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 224 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048181124

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Valeria Bertacco Kai-hui Chang Igor L. Markov
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ISBN 10 : 9048181127 ISBN 13 : 9789048181124
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Etat : New. This text covers innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow, enabling the production of more reliable electronic devices. It offers many examples and figures to illustrate key concepts and algorithms. Series: Lecture Notes in Electrical Engineering. Num Pages: 224 pages, biography. BIC Classification: TJFC; UGC; UYF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 324. . 2010. Paperback. . . . . N° de réf. du vendeur V9789048181124

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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis

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