Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - Couverture rigide

 
9789067640787: Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces
Couverture rigide
ISBN 10 : 9067640786 ISBN 13 : 9789067640787
Editeur : VSP International Science Publishers, 1987

Synopsis

This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications. All the main parts of SIMS instruments are discussed in detail. Emphasising practical applications the book also considers the methods and analytical procedures for constitutional analysis of solids --- including metals, semiconductors, organic and biological samples. Methods of depth profiling, spatially multidimensional analysis and study of processes at the surface, such as adsorption, catalysis and oxidation, are given along with the application of SIMS in combination with other methods of surface analysis.

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À propos de l'auteur

V. Cherepin

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Éditeur
VSP International Science Publishers
Date d'édition
1987
Langue
anglais
ISBN 10 
9067640786
ISBN 13 
9789067640787
Reliure
Relié
Nombre de pages
138
Éditeur
Cherepin V. T.
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible