Emerging Technologies and Circuits - Couverture souple
Livre 17 sur 548: Lecture Notes in Electrical Engineering
Synopsis
Emerging Technologies and Circuits contains a set of outstanding papers, keynote and tutorials presented during 3 days at the International Conference On Integrated Circuit Design and Technology (ICICDT) held in June 2008 in Minatec, Grenoble.
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Emerging Technologies and Circuits contains a set of outstanding papers, keynote and tutorials presented during 3 days at the International Conference On Integrated Circuit Design and Technology (ICICDT) held in June 2008 in Minatec, Grenoble.
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Emerging Technologies and Circuits
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Springer Netherlands Nov 2012, 2012
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers different aspects of emerging technology and devicesCovers different aspects of advanced devices and circuitsCovers different aspects of reliability and SEUCovers different aspects of power, timing and variability, Covers different aspects of analog . N° de réf. du vendeur 5826391
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Taschenbuch. Etat : Neu. Emerging Technologies and Circuits | Amara Amara (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | x | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400733534 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 106171246
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Synergy Between Design and Technology: A Key Factor in the Evolving Microelectronic Landscape.- EMERGING TECHNOLOGY AND DEVICES.- New State Variable Opportunities Beyond CMOS: A System Perspective.- A Simple Compact Model to Analyze the Impact of Ballistic and Quasi-Ballistic Transport on Ring Oscillator Performance.- ADVANCED DEVICES AND CIRUITS.- Low-Voltage Scaled 6T FinFET SRAM Cells.- Independent-Double-Gate FINFET SRAM Cell for Drastic Leakage Current Reduction.- Metal Gate Effects on a 32 nm Metal Gate Resistor.- RELIABILITY AND SEU.- Threshold Voltage Shift Instability Induced by Plasma Charging Damage in MOSFETS with High-K Dielectric.- Analysis of SI Substrate Damage Induced by Inductively Coupled Plasma Reactor with Various Superposed Bias Frequencies.- POWER, TIMING AND VARIABILITY.- CMOS SOI Technology for WPAN: Application to 60 GHZ LNA.- SRAM Memory Cell Leakage Reduction Design Techniques in 65 nm Low Power PD-SOI CMOS.- Resilient Circuits for Dynamic Variation Tolerance.- Process Variability-Induced Timing Failures - A Challenge in Nanometer CMOS Low-Power Design.- How Does Inverse Temperature Dependence Affect Timing Sign-Off.- CMOS Logic Gates Leakage Modeling Under Statistical Process Variations.- On-Chip Circuit Technique for Measuring Jitter and Skew with Picosecond Resolution.- ANALOG AND MIXED SIGNAL.- DC-DC Converter Technologies for On-Chip Distributed Power Supply Systems - 3D Stacking and Hybrid Operation.- Sampled Analog Signal Processing: From Software-Defined to Software Radio.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 276 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789400733534
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