Articles liés à Electron Microscopy I: 5th Asia-Pacific Electron Microscopy...
Electron Microscopy I: 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference : Beijing, China, 2-6 August 1992 (001) - Couverture rigide
Synopsis
Presents essays from the 5th Asia-Pacific conference held in Beijing, China, in 1992.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Electron Microscopy I: 5th Asia-Pacific Electron Microscopy...
Image d'archives
Electron Microscopy I: 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference : Beijing, China, 2-6 August 1992 (001)
Edité par
World Scientific Pub Co Inc, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9789810209988
Acheter neuf
EUR 276,89
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Electron Microscopy I - Proceedings of the 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference
Edité par
WORLD SCIENTIFIC PUB CO INC, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. N° de réf. du vendeur 909654170
Acheter neuf
EUR 268,10
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
ELECTRON MICROSCOPY 1 (P/H)
Edité par
World Scientific, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. ELECTRON MICROSCOPY 1 (P/H) | Z H Zhai K H Kuo | Buch | Englisch | 1992 | World Scientific | EAN 9789810209988 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 138054033
Acheter neuf
EUR 277,85
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Image d'archives
Electron Microscopy I: 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference : Beijing, China, 2-6 August 1992: Vol 001
Edité par
World Scientific Pub Co Inc, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Brand New. 660 pages. 8.00x1.94x10.00 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-9810209983
Acheter neuf
EUR 355,85
Expédition à EUR 23,67
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
ELECTRON MICROSCOPY 1 (P/H)
Edité par
World Scientific, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Contents: Some Aspects of Present and Future High Resolution Electron Microscopy and Image Processing (H Hashimoto); Imaging Defects by TEM and SEM (P B Hirsch); Electron Microscopy and Science (E Zeitler); The Significance of Electron Microscopy in Materials Science and Engineering (G Thomas); Defects Characteristics Identification by Means of the Convergent-Beam Electron Diffraction and Imaging Technique (K H Kuo & R H Wang); STM Image 'Artifacts' Studied by Combined In-Situ STM-REM (J C H Spence & W Lo); In Situ REM Study of Structural Transformations on Si Surfaces (A L Aseev et al.); Incoherence Effects in Reflection Electron Microscopy (A Howie et al.); Reflection Electron Holography of Single Crystal Surfaces (H Banzhof et al.); Quantitative Analysis of Electron Diffraction with Imaging Plate (D Shindo et al.); Determination of the Displacement Vector at a Stacking Fault Using Convergent-Beam Electron Diffraction (M Tanaka et al.); Quantitative Structure Images of Crystal Surfaces and Interfaces (M Shiojiri); High Resolution Electron Microscopy of Dislocations in Compound Crystals (K Suzuki & S Takeuchi); TEM-Investigation of an Electron-Irradiated Fe-Cr-Ni Alloy (S Yamamoto & Y Ishida); and other papers; N° de réf. du vendeur 9789810209988
Acheter neuf
EUR 362
Expédition à EUR 51,12
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Electron Microscopy I - Proceedings of the 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference
Edité par
World Scientific Publishing Company, 1992
ISBN 10 : 9810209983
ISBN 13 : 9789810209988
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 660 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. N° de réf. du vendeur 34902793/202
Acheter D'occasion
EUR 810,23
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)