Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers - Couverture souple
Livre 174 sur 544: Communications in Computer and Information Science
Synopsis
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Vlsi Design and Test: 21st International Symposium,...
Image d'archives
VLSI Design and Test (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur d2659e7aeb88d60922c4acf18322a181
Acheter neuf
EUR 86,24
Expédition à EUR 11
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Edité par
Springer, 2017
ISBN 10 : 9811074690
ISBN 13 : 9789811074691
Ancien ou d'occasion
Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 30456571
Acheter D'occasion
EUR 124,38
Expédition à EUR 2,29
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image d'archives
VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9789811074691_new
Acheter neuf
EUR 115,34
Expédition à EUR 13,85
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer Nature Singapore Dez 2017, 2017
ISBN 10 : 9811074690
ISBN 13 : 9789811074691
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification. 840 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789811074691
Acheter neuf
EUR 106,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 30456571-n
Acheter neuf
EUR 131,94
Expédition à EUR 2,29
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer Singapore, 2017
ISBN 10 : 9811074690
ISBN 13 : 9789811074691
Neuf
Kartoniert / Broschiert
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and . N° de réf. du vendeur 178843978
Acheter neuf
EUR 92,27
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811074691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 111011620
Acheter neuf
EUR 95,15
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer, Springer Dez 2017, 2017
ISBN 10 : 9811074690
ISBN 13 : 9789811074691
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 840 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789811074691
Acheter neuf
EUR 106,99
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Edité par
Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10 : 9811074690
ISBN 13 : 9789811074691
Neuf
Paperback
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Paperback. Etat : Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-9811074690
Acheter neuf
EUR 161,15
Expédition à EUR 17,34
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification. N° de réf. du vendeur 9789811074691
Acheter neuf
EUR 116,27
Expédition à EUR 66,24
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)