VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers - Couverture souple
Livre 234 sur 544: Communications in Computer and Information Science
Synopsis
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.
The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Autres éditions populaires du même titre
Résultats de recherche pour VLSI Design and Test: 22nd International Symposium,...
Image d'archives
VLSI Design and Test (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur UENFMSKZFR
Acheter neuf
EUR 86,24
Expédition à EUR 11
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9789811359491_new
Acheter neuf
EUR 115,35
Expédition à EUR 13,85
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019
ISBN 10 : 9811359490
ISBN 13 : 9789811359491
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces. 740 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789811359491
Acheter neuf
EUR 106,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer Singapore, 2019
ISBN 10 : 9811359490
ISBN 13 : 9789811359491
Neuf
Couverture souple
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully rev. N° de réf. du vendeur 259166429
Acheter neuf
EUR 92,27
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Vlsi Design And Test : 22nd Internationa
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur V9789811359491
Acheter neuf
EUR 133,65
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-Unis
Expédition depuis Irlande vers Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image d'archives
VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP. N° de réf. du vendeur 26376526545
Acheter neuf
EUR 144,03
Expédition à EUR 3,44
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
impression à la demandeVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. Print on Demand. N° de réf. du vendeur 369551630
Acheter neuf
EUR 144,08
Expédition à EUR 7,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test | 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. VLSI Design and Test | 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers | S. Rajaram (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811359491 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 115080588
Acheter neuf
EUR 95,15
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
VLSI Design and Test
Edité par
Springer, Springer Jan 2019, 2019
ISBN 10 : 9811359490
ISBN 13 : 9789811359491
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 740 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789811359491
Acheter neuf
EUR 106,99
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
impression à la demandeVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. PRINT ON DEMAND. N° de réf. du vendeur 18376526555
Acheter neuf
EUR 158,03
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)