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VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers - Couverture souple

 
9789813297661: VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

Synopsis

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.

The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.

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Sengupta, Anirban; et al. (Eds.)
Edité par Singapore, Springer., 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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XVI, 775 p. Softcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Communications in Computer Information Science, 1066. Sprache: Englisch. N° de réf. du vendeur 10286GB

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Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Edité par Springer, 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Anirban Sengupta
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Paperback. Etat : new. Paperback. This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation. This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9789813297661

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ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Edité par Springer Nature Singapore, 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Sengupta, Anirban
Edité par Springer 2019-08, 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Edité par Springer, 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Edité par Springer, 2019
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis

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Anirban Sengupta
ISBN 10 : 9813297662 ISBN 13 : 9789813297661
Neuf Taschenbuch
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation. 792 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789813297661

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