Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)

Vanzi, Massimo; Bechou, Laurent; Fukuda, Mitsuo; Mura, Giovanna

ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Edité par ISTE Press - Elsevier, 2021
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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