Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Langue : anglais

Edité par Springer, 1986

0306421402 / 9780306421402

Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle

Vendeur avec une évaluation de 4 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 22 novembre 2018

Afficher les articles de ce vendeur
Livre relié

Etat: Occasion

EUR 153,93

EUR 3,43 expédition 
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

Item description from seller

pp. xii + 454.

N° de réf. du vendeur 26268197

Titre
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Auteur
Dale E. Newbury David C. Joy Joseph Goldstein C.E. Fiori Patrick Echlin
Éditeur
Springer
Année de publication
1986
État de l'article
Used
Reliure
Couverture rigide
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0306421402
ISBN à 13 chiffres
9780306421402

Books Puddle

New York, NY, Etats-Unis

Vendeur avec une évaluation de 4 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 22 novembre 2018

Frais d'expédition à l'intérieur de ce pays : Etats-Unis

Article12 à 19 jours ouvrés12 à 14 jours ouvrés
Premier articleEUR 3,43EUR 6,01
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Description de la boutique

I mainly carry imported books from South East Asia / South Asia for readers of all Age Groups.

Spécialité

South Asian and South East Asian Culture, Religion, Art etc

Profil professionnel du vendeur

PLETOS INC

6931 51st Avenue, WOODSIDE
Woodside, NY Etats-Unis 11377