Advances in X-Ray Analysis

Langue : anglais

Edité par Springer US Nov 2012, 2012

1461365325 / 9781461365327

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. 648 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781461365327

Détails bibliographiques

Titre
Advances in X-Ray Analysis
Auteur
C. S. Barrett
Éditeur
Springer US Nov 2012
Année de publication
2012
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1461365325
ISBN à 13 chiffres
9781461365327
Poids de l'article
1 100 grammes
Dimensions
244x170x35 mm

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