Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer Apr 1995, 1995

0792395646 / 9780792395645

Série : Livre 88 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test (BIST) of Mixed-Signal Integrated Circuits is a concise introduction to a powerful new signal generation technique. The book begins with a brief introduction to the testing problem and a review of conventional signal generation techniques. The book then describes an oversampling-based oscillator capable of generating high-precision analog tones using a combination of digital logic and D/A conversion. These concepts are then extended to multi-tone testing schemes without introducing a severe hardware penalty. The concepts are extended further to encompass piece-wise linear waveforms such as square, triangular and sawtooth waves. Experimental results are presented to verify the ideas in each chapter and finally, conclusions are drawn. For those readers unfamiliar with delta-sigma modulation techniques, a brief introduction to this subject is also provided in an appendix. The book is ideal for test engineers, researchers and circuits designers with an interest in IC testing methods. 136 pp. Englisch. …

N° de réf. du vendeur 9780792395645

Titre
Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits
Auteur
Albert K. Lu
Éditeur
Springer Apr 1995
Année de publication
1995
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0792395646
ISBN à 13 chiffres
9780792395645
Poids de l'article
311 grammes
Dimensions
235x157x13 mm
Série
Livre 88 sur 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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