Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS, AES und XPS (German Edition)

Grasserbauer, Manfred; Dudek, Hans Joachim; Ebel, Maria F.

ISBN 10: 3112702662 ISBN 13: 9783112702666
Edité par De Gruyter, 1986
Langue: allemand
Etat : Neuf Couverture rigide

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