Applied Logistic Regression

Hosmer, David W., Jr. and Lemeshow, Stanley

Edité par New York John Wiley & Sons, 1989
Ancien(s) ou d'occasion Etat : Fine Couverture rigide

Vendu par Jeff Jeremias Fine Arts, RMABA, Aurora, CO, Etats-Unis

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Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Fine

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