Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)

Bhushan, B. (editor); Fuchs, H. (editor)

ISBN 10: 3540269096 ISBN 13: 9783540269090
Edité par Springer, 2006
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

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