Atom-Probe Tomography

Langue : anglais

Edité par Springer US Aug 2014, 2014

1489974296 / 9781489974297

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in addition to data reconstruction and visualization, statistical data analysis methods and specimen preparation by electropolishing and FIB-based techniques. A full description of the local electrode atom probe - a new state-of-the-art instrument - is also provided, along with detailed descriptions and limitations of laser pulsing as a method to field evaporate atoms. Valuable coverage of the new ionization theory is also included, which underpins the overall technique. 444 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781489974297

Titre
Atom-Probe Tomography
Auteur
Richard G. Forbes
Éditeur
Springer US Aug 2014
Année de publication
2014
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1489974296
ISBN à 13 chiffres
9781489974297
Poids de l'article
828 grammes
Dimensions
241x160x30 mm

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