Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Langue : anglais

Edité par Springer US, 1998

0306458969 / 9780306458965

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Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. B.

N° de réf. du vendeur 458417549

Titre
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Auteur
Czanderna, Alvin W.|Madey, Theodore E.|Powell, Cedric J.
Éditeur
Springer US
Année de publication
1998
État de l'article
New
Reliure
Gebunden
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0306458969
ISBN à 13 chiffres
9780306458965

moluna

Greven, Allemagne

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