Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H.,McAnney, W. H.,Savir, J.

ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Edité par Wiley-Interscience, 1987
Langue: anglais
Etat : Occasion - Satisfaisant Couverture rigide

Vendu par HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 11 mars 2019

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Satisfaisant

Prix:
EUR 11,61
Expédition à EUR 3,25
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier