Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Built in Pseud Test of Digit Cir)

Bardell, Paul H./ McAnney, William H./ Savir, Jacob

ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Edité par Wiley-Interscience, 1987
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni

Vendeur AbeBooks depuis 6 janvier 2003

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture rigide

Etat : Neuf

Prix:
EUR 343,28
Expédition à EUR 14,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantité disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier