Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Li, Xiaowei; Yan, Guihai; Liu, Cheng

ISBN 10: 9811985537 ISBN 13: 9789811985539
Edité par Springer, 2024
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

Vendu par Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 22 novembre 2018

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture souple

Etat : Neuf

Prix:
EUR 274,09
EUR 3,46 expédition vers Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier