Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.

Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)

ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Edité par Cambridge University Press, 2009
Langue: anglais
Etat : Occasion - Comme neuf Couverture rigide

Vendu par GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 6 avril 2009

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Comme neuf

Prix:
EUR 180,63
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier