Computer-Assisted Microscopy: The Measurement and Analysis of Images

Russ, John C.

ISBN 10: 0306434105 ISBN 13: 9780306434105
Edité par Plenum Pub Corp, New York, New York, U.S.A., 1990
Langue: anglais
Etat : Occasion - Comme neuf Couverture rigide

Vendu par Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 11 janvier 2000

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Comme neuf

Prix: EUR 17,69 Autre devise
EUR 34,09 expédition depuis Etats-Unis vers France Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier