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New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur L0-9786208939496
Este livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos transístores SiC JFET para aplicações aeroespaciais exigentes. É descrita uma metodologia completa, incluindo a conceção de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia crítica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as alterações nos parâmetros eléctricos. Os resultados obtidos evidenciam indicadores de degradação fiáveis e abrem perspectivas interessantes para a conceção de sistemas electrónicos mais resistentes em ambientes extremos.
Titre : Controlo do envelhecimento dos trans?stores ...
Éditeur : Edi??es Nosso Conhecimento
Date d'édition : 2025
Reliure : PAP
Etat : New