Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Huisman, Leendert M.
ISBN 10: 0387249931 ISBN 13: 9780387249933
Edité par Springer, 2005
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Description :
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Synopsis :
There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques from other data analysis environments are appropriate for analyzing IC fails, but have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. The description techniques and analysis routines are sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
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Détails bibliographiques
Titre : Data Mining and Diagnosing IC Fails (...
Éditeur : Springer
Date d'édition : 2005
Reliure : Couverture rigide
Etat : New
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Data Mining and Diagnosing IC Fails.
Edité par
New York/ NY, Springer US., 2005
ISBN 10 : 0387249931
ISBN 13 : 9780387249933
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2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing). Sprache: Englisch. N° de réf. du vendeur 214ZB
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresents a new diagnosis technique S. N° de réf. du vendeur 5909427
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Buch. Etat : Neu. Data Mining and Diagnosing IC Fails | Leendert M. Huisman | Buch | xx | Englisch | 2005 | Springer US | EAN 9780387249933 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 102236566
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