Data Mining and Diagnosing IC Fails

Langue : anglais

Edité par Springer US Jun 2005, 2005

0387249931 / 9780387249933

Série : Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment. 272 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780387249933

Titre
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Auteur
Leendert M. Huisman
Éditeur
Springer US Jun 2005
Année de publication
2005
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0387249931
ISBN à 13 chiffres
9780387249933
Poids de l'article
576 grammes
Dimensions
241x160x20 mm
Série
Livre 15 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

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