Data Model Patterns: A Metadata Map

David C Hay

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Langue : anglais

Edité par Elsevier Science Apr 2006, 2006

0120887983 / 9780120887989

Série : Livre 42 sur 52 - The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Data Model Patterns: A Metadata Map not only presents a conceptual model of a metadata repository but also demonstrates a true enterprise data model of the information technology industry itself. It provides a step-by-step description of the model and is organized so that different readers can benefit from different parts. It offers a view of the world being addressed by all the techniques, methods, and tools of the information processing industry (for example, object-oriented design, CASE, business process re-engineering, etc.) and presents several concepts that need to be addressed by such tools. This book is pertinent, with companies and government agencies realizing that the data they use represent a significant corporate resource recognize the need to integrate data that has traditionally only been available from disparate sources. An important component of this integration is management of the 'metadata' that describe, catalogue, and provide access to the various forms of underlying business data. The 'metadata repository' is essential to keep track of the various physical components of these systems and their semantics. The book is ideal for data management professionals, data modeling and design professionals, and data warehouse and database repository designers. 432 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780120887989

Titre
Data Model Patterns: A Metadata Map
Auteur
David C Hay
Éditeur
Elsevier Science Apr 2006
Année de publication
2006
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0120887983
ISBN à 13 chiffres
9780120887989
Poids de l'article
1 087 grammes
Dimensions
244x200x24 mm
Série
Livre 42 sur 52: The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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