Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

Langue : anglais

Edité par Springer, Springer Mai 2013, 2013

1475799594 / 9781475799590

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21. 332 pp. Englisch. …

N° de réf. du vendeur 9781475799590

Titre
Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Auteur
C. H. Stapper
Éditeur
Springer, Springer Mai 2013
Année de publication
2013
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1475799594
ISBN à 13 chiffres
9781475799590
Poids de l'article
626 grammes
Dimensions
254x178x19 mm

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