Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

Langue : anglais

Edité par Elsevier Inc Jun 2018, 2018

0081020538 / 9780081020531

Série : Livre 112 sur 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures provides a comprehensive review on the recent progress in solving defect issues and deliberate defect engineering in novel material systems. It begins with an overview of point defects in ZnO and group-III nitrides, including irradiation-induced defects, and then look at defects in one and two-dimensional materials, including carbon nanotubes and graphene. Next, it examines the ways that defects can expand the potential applications of semiconductors, such as energy upconversion and quantum processing. The book concludes with a look at the latest advances in theory. While defect physics is extensively reviewed for conventional bulk semiconductors, the same is far from being true for novel material systems, such as low-dimensional 1D and 0D nanostructures and 2D monolayers. This book fills that necessary gap. 308 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9780081020531

Titre
Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures
Auteur
Weimin Chen
Éditeur
Elsevier Inc Jun 2018
Année de publication
2018
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0081020538
ISBN à 13 chiffres
9780081020531
Poids de l'article
415 grammes
Dimensions
229x152x17 mm
Série
Livre 112 sur 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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