Defects and Impurities in Silicon Materials | An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering

Yutaka Yoshida (u. a.)

ISBN 10: 4431557997 ISBN 13: 9784431557999
Edité par Springer, 2016
Neuf(s) Taschenbuch

Vendeur preigu, Osnabrück, Allemagne Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Vendeur AbeBooks depuis 5 août 2024


A propos de cet article

Description :

Defects and Impurities in Silicon Materials | An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering | Yutaka Yoshida (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Physics | xv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9784431557999 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 104371020

Signaler cet article

Synopsis :

This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years.

À propos de l?auteur: Prof. Yutaka Yoshida
Since 2004 Yutaka Yoshida is professor in Materials and Bio Science at Shizuoka Institute of Science and Technology (SIST) Japan. He is also the director of SIST Advanced instrumental analysis center. After obtaining his doctoral degree from Osaka University under the guidance of emeritus Professor F.E. Fujita, and he stayed in the group of Professor Gero Vogl as a guest scientist at the Hahn-Meitner Institute Berlin, Germany, in the period between 1983 and 1985, and 1990, and also as a research assistant at the Institute of solid state physics, Universität Wien, Austria, between 1986 and 1989.
Since 1993 he is a guest Scientist at the RIKEN, Japan. He served for the chairperson of ICAME 2011 at Kobe and also will be the chairperson for 7th Forum of Science and Technology of Silicon Materials 2014 (Hamamatsu).

Prof.Guido Langouche
Since 2010 Guido Langouche is emeritus professor in nuclear solid state physics at the
University of Leuven. After obtaining his doctoral and habilitation degrees from K.U. Leuven, he was post-doc at the universities of Stanford and Groningen and guest professor at the universities of Osaka, Lyon and Kinshasa. From 1995 till 2005 he was vice-rector of K.U. Leuven. From 2005 till 2010 he was chairman of the Coimbra Group, an academic collaboration network of 40 of Europe's longest-established research-intensive universities. He was also vice-president of NVAO, the Accreditation Agency for the Netherlands and Flanders, residing in The Hague, where he was appointed in 2007 jointly by the Dutch and Flemish Ministers of Education. Since 2011 he is also Secretary of INQAAHE, the International Network for Quality Assurance Agencies in Higher Education.
He is editor-in-chief of the Hyperfine Interactions journal.

Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Détails bibliographiques

Titre : Defects and Impurities in Silicon Materials ...
Éditeur : Springer
Date d'édition : 2016
Reliure : Taschenbuch
Etat : Neu

Meilleurs résultats de recherche sur AbeBooks

Image fournie par le vendeur

Yoshida, Yutaka [Ed.] und Guido [Ed.] Langouche:
Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Ancien ou d'occasion Softcover

Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Softcover. C-02446 Ex-library with Stamp and Library-Signature in Good Condition, Some Traces of Use 9784431557999 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050. N° de réf. du vendeur 2488308

Contacter le vendeur

Acheter D'occasion

EUR 42,50
Expédition à EUR 40
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Unbekannt
Edité par Springer Japan, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Ancien ou d'occasion Couverture souple

Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 504 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has beenmade possible by newly developed experimental methods, first principle theories,and computer simulation techniques. The book is aimed at young researchers, scientists, and technicians in related industries. The mainpurposes are to provide readers with 1) the basic physics behind defects insilicon materials, 2) the atomistic modeling as well as the characterizationtechniques related to defects and impurities in silicon materials, and 3) anoverview of the wide range of the research fields involved. N° de réf. du vendeur 26000174/202

Contacter le vendeur

Acheter D'occasion

EUR 42,59
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Yoshida, Yutaka
Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Couverture souple
impression à la demande

Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie

Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles Evaluation 3 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur 18c5afab6b9c6665e7d8f4208ee94bc6

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 62,23
Expédition à EUR 8
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Yoshida, Yutaka|Langouche, Guido
Edité par Springer Japan, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Kartoniert / Broschiert
impression à la demande

Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides the basic physics behind the modeling and evaluation techniques used in silicon materials science&nbspPresents atomistic insight into the defects and the impurities in silicon materials such as ULSI, photonic crystals, solar ce. N° de réf. du vendeur 83011767

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 65,94
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Guido Langouche
Edité par Springer Japan Mrz 2016, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Taschenbuch
impression à la demande

Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has beenmade possible by newly developed experimental methods, first principle theories,and computer simulation techniques.The book is aimed at young researchers, scientists, and technicians in related industries. The mainpurposes are to provide readers with 1) the basic physics behind defects insilicon materials, 2) the atomistic modeling as well as the characterizationtechniques related to defects and impurities in silicon materials, and 3) anoverview of the wide range of the research fields involved. 504 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9784431557999

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 74,89
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Yutaka Yoshida
Edité par Springer, Springer Mär 2016, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Taschenbuch
impression à la demande

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has beenmade possible by newly developed experimental methods, first principle theoriesand computer simulation techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 504 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9784431557999

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 74,89
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Yutaka Yoshida
Edité par Springer, Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Taschenbuch

Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has beenmade possible by newly developed experimental methods, first principle theories,and computer simulation techniques.The book is aimed at young researchers, scientists, and technicians in related industries. The mainpurposes are to provide readers with 1) the basic physics behind defects insilicon materials, 2) the atomistic modeling as well as the characterizationtechniques related to defects and impurities in silicon materials, and 3) anoverview of the wide range of the research fields involved. N° de réf. du vendeur 9784431557999

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 80,74
Expédition à EUR 64,24
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Couverture souple

Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. pp. 450. N° de réf. du vendeur 26372722996

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 107,11
Expédition à EUR 3,42
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Couverture souple
impression à la demande

Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. Print on Demand pp. 450. N° de réf. du vendeur 373355243

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 113,83
Expédition à EUR 7,50
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Edité par Springer, 2016
ISBN 10 : 4431557997 ISBN 13 : 9784431557999
Neuf Couverture souple
impression à la demande

Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 450. N° de réf. du vendeur 18372723006

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 116,55
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

There are 1 autres exemplaires de ce livre sont disponibles

Afficher tous les résultats pour ce livre