Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering

Chikawa, J. (Editor) / Sumino, K. (Editor) / Wada, K. (Editor)

ISBN 10: 9401086168 ISBN 13: 9789401086165
Edité par D. Reidel Publishing Company, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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