Defects and Properties of Semiconductors

Langue : anglais

Edité par Springer Netherlands, Springer Dez 2011, 2011

9401086168 / 9789401086165

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Livre broché

Etat: Neuf

EUR 74,89

EUR 60,00 expédition 
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

A propos de cet article

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This volume contains nearly all of the papers presented at the Symposium on 'Defects and Qualities of Semiconductors' which was held in Tokyo on May 17-18, 1984, under the sponsorship of the SOCIETY OF NON-TRADITIONAL TECHNOLOGY. The Symposium was organized by the promoting committee of the research project 'Quality Developement of Semiconductors by Utilization of Crystal Defects' sponsored by the Science and Technology Agency of Japan. Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication. Recently, a new trend has appeared in which crystal defects are positively utilized to improve the device performance and reliability. A typical example is the intrinsic gettering technique for Czochralski silicon. Thus, a new term 'DEFECT ENGINEERING' was born. It is becoming more important to control density and distribution of defects than to eliminate all the defects. Very precise and deep knowledge on defects is required to establish such techniques as generation and development of defects desired depending on type of devices and degree of integration. Electrical, optical and mechanical effects of defects should be also understood correctly. Such knowledge is essential even for eliminating defects from some specified device regions. It is the time now to investigate defect properties and defect kinetics in an energetic way. From this point of view, all the speakers in this symposium were invited among the most active investigators in the field of defect engineering in Japan.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9789401086165

Titre
Defects and Properties of Semiconductors
Auteur
J. Chikawa
Éditeur
Springer Netherlands, Springer Dez 2011
Année de publication
2011
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
9401086168
ISBN à 13 chiffres
9789401086165
Poids de l'article
399 grammes
Dimensions
229x152x15 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Frais d'expédition de Allemagne vers Etats-Unis

Article60 à 60 jours ouvrés60 à 60 jours ouvrés
Premier articleEUR 60,00EUR 75,00
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Chèque
  • Paypal

Description de la boutique

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Spécialité

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Profil professionnel du vendeur

buchversandmimpf2000

Allemagne