Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets

Langue : anglais

Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018, 2018

6139873827 / 9786139873821

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain. 56 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9786139873821

Titre
Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets
Auteur
Abdelkrim Nassim
Éditeur
LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018
Année de publication
2018
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
6139873827
ISBN à 13 chiffres
9786139873821
Poids de l'article
102 grammes
Dimensions
220x150x4 mm

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