Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics: Time Dependent Failure Mechanisms (SpringerBriefs in Materials)

Livre 43 sur 68: SpringerBriefs in Materials

Lu, Toh-Ming,Borja, Juan Pablo,Plawsky, Joel

ISBN 10: 3319432184 ISBN 13: 9783319432182
Edité par Springer, 2016
Langue: anglais
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