Electron Beam Testing Technology

Langue : anglais

Edité par Springer US Jun 2013, 2013

1489915249 / 9781489915245

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing. While ICs were being fabricated on design rules of several microns, the mechanical ne edle probe served quite adequately for internal chip probing. This scenario changed with growing device complexity and shrinking geometries, prompting IC manufacturers to take note ofthis new testing technology. It required several more years and considerable investment by electron beam tester manufacturers, however, to co me up with user-friendly automated systems that were acceptable to IC test engineers. These intervening years witnessed intense activity in the development of instrumentation, testing techniques, and system automation, as evidenced by the proliferation of technical papers presented at conferences. With the shift of interest toward applications, the technology may now be considered as having come of age. 480 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781489915245

Titre
Electron Beam Testing Technology
Auteur
John T. L. Thong
Éditeur
Springer US Jun 2013
Année de publication
2013
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1489915249
ISBN à 13 chiffres
9781489915245
Poids de l'article
895 grammes
Dimensions
254x178x26 mm

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