Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Livre 77 sur 98: Optical Science and Engineering

Lawrence E. Murr

ISBN 10: 0367402947 ISBN 13: 9780367402945
Edité par Taylor & Francis Ltd, 2019
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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