Epioptics

Langue : anglais

Edité par Springer, Springer Nov 2011, 2011

3642798225 / 9783642798221

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The study of condensed matter using optical techniques, where photons act as both probe and signal, has a long history. It is only recently, however, that the extraction of surface and interface information, with submonolayer resolution, has been shown to be possible using optical techniques (where 'optical' applies to electromagnetic radiation in and around the visible region of the spectrum). This book describes these 'epioptic' techniques, which have now been quite widely applied to semiconductor surfaces and interfaces. Particular emphasis in the book is placed on recent studies of submonolayer growth on well-characterised semiconductor surfaces, many of which have arisen from CEC DGJGII ESPRIT Basic Research Action No. 3177 'EPIOPTIC', and CEU DGIII ESPRIT Basic Research Action No. 6878 'EASI'. Techniques using other areas of the spectrum such as the infra-red region (IR spectroscopy, in its various surface configurations), and the x-ray region (surface x-ray diffraction, x-ray standing wave), are omitted. The optical techniques described use simple lamp or small laser sources and are thus, in principle, easily accessible. Epioptic probes can provide new information on solid-gas, solid-liquid and liquid-liquid interfaces. They are particularly suited to growth monitoring. Emerging process technologies for fabricating submicron and nanoscale semiconductor devices and novel multilayer materials, whether based on silicon or compound semiconductors, all require extremely precise control of growth at surfaces. In situ, non-destructive, real-time monitoring and characterisation of surfaces under growth conditions is needed for further progress. Both atomic scale resolution, and non-destructive characterisation of buried structures, are required.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 248 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783642798221

Titre
Epioptics
Auteur
John F. McGilp
Éditeur
Springer, Springer Nov 2011
Année de publication
2011
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3642798225
ISBN à 13 chiffres
9783642798221
Poids de l'article
382 grammes
Dimensions
235x155x14 mm

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