Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

Langue : anglais

Edité par Springer US Nov 2012, 2012

1461426723 / 9781461426721

Série : Livre 24 sur 34 - Integrated Circuits and Systems

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0. 256 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781461426721

Titre
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Auteur
Rob A. Rutenbar
Éditeur
Springer US Nov 2012
Année de publication
2012
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1461426723
ISBN à 13 chiffres
9781461426721
Poids de l'article
394 grammes
Dimensions
235x155x15 mm
Série
Livre 24 sur 34: Integrated Circuits and Systems

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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