Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer US, Springer US Jan 2011, 2011

1441938281 / 9781441938282

Série : Livre 5 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast, methodologies for the testing of analog circuits remain relatively underdeveloped due to the complex nature of analog signals. Compared to digital testing, analog testing lags far behind in methodologies and tools and therefore demands substantial research and development effort.Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits is a textbook for advanced undergraduate and graduate level students as well as practicing engineers. The objective of this book is to study the testing and fault diagnosis of analog and analog part of mixed signal circuits. A background in analog integrated circuit, artificial neural network is desirable but not essential.The text covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits. Fault model of the devices in analog domain has been introduced in the text. The test stimulus generations are also discussed in details. Experimental verification of some state of the art techniques has also been presented in the book. It also contains problems that can be used as quiz or homework. This book enables the reader to test an analog circuit that is implemented either in bipolar or MOS technology.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 196 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9781441938282

Titre
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Auteur
Prithviraj Kabisatpathy
Éditeur
Springer US, Springer US Jan 2011
Année de publication
2011
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1441938281
ISBN à 13 chiffres
9781441938282
Poids de l'article
306 grammes
Dimensions
235x155x11 mm
Série
Livre 5 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

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