Field Emission Scanning Electron Microscopy

Langue : anglais

Edité par Springer Nature Singapore Okt 2017, 2017

9811044325 / 9789811044328

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage 152 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9789811044328

Titre
Field Emission Scanning Electron Microscopy
Auteur
Nicolas Brodusch
Éditeur
Springer Nature Singapore Okt 2017
Année de publication
2017
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
9811044325
ISBN à 13 chiffres
9789811044328
Poids de l'article
242 grammes
Dimensions
235x155x9 mm

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