Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists

Langue : anglais

Edité par Taylor and Francis Ltd, GB, 2025

1032246804 / 9781032246802

Série : Livre 16 sur 16 - Advances in Materials Science and Engineering

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The structure-property relationship is a key topic in materials science and engineering. To understand why a material displays certain behaviors, the first step is to resolve its crystal structure and reveal its structure characteristics. Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists equips readers with an in-depth understanding of using powder x-ray diffraction and transmission electron microscopy for the analysis of crystal structures.Introduces fundamentals of crystallographyCovers XRD of materials, including geometry and intensity of diffracted x-ray beams and experimental methodsDescribes TEM of materials and includes atomic scattering factors, electron diffraction, and diffraction and phase contrastsDiscusses applications of HRTEM in materials researchExplains concepts used in XRD and TEM lab trainingBased on the author's course lecture notes, this text guides materials science and engineering students with minimal reliance on advanced mathematics. It will also appeal to a broad spectrum of readers, including researchers and professionals working in the disciplines of materials science and engineering, applied physics, and chemical engineering.

N° de réf. du vendeur LU-9781032246802

Titre
Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists
Auteur
Dong ZhiLi
Éditeur
Taylor and Francis Ltd, GB
Année de publication
2025
État de l'article
New
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1032246804
ISBN à 13 chiffres
9781032246802
Poids de l'article
500 grammes
Série
Livre 16 sur 16: Advances in Materials Science and Engineering

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