High Performance Memory Testing

Langue : anglais

Edité par Springer US Sep 2002, 2002

1402072554 / 9781402072550

Série : Livre 12 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 266 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781402072550

Titre
High Performance Memory Testing
Auteur
R. Dean Adams
Éditeur
Springer US Sep 2002
Année de publication
2002
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1402072554
ISBN à 13 chiffres
9781402072550
Poids de l'article
568 grammes
Dimensions
241x160x19 mm
Série
Livre 12 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Allemagne

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