Higher Education: Handbook of Theory and Research

Langue : anglais

Edité par Springer Netherlands Jun 2001, 2001

0875861318 / 9780875861319

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. 408 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780875861319

Titre
Higher Education: Handbook of Theory and Research
Auteur
J. C. Smart
Éditeur
Springer Netherlands Jun 2001
Année de publication
2001
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0875861318
ISBN à 13 chiffres
9780875861319
Poids de l'article
611 grammes
Dimensions
233x155x23 mm

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