IDDQ Testing of VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer, Springer Dez 1992, 1992

0792393155 / 9780792393153

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Afficher les articles de ce vendeur
Livre relié

Etat: Neuf

EUR 106,99

EUR 60,00 expédition 
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

Item description from seller

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. Both Sandia Labs and RCA in the United States and Philips Labs in the Netherlands practiced this procedure on their CMOS ICs. At that time, this practice stemmed simply from an intuitive sense that CMOS ICs showing abnormal quiescent power supply current (IDDQ) contained defects. Later, this intuition was supported by data and analysis in the 1980s by Levi (RACD, Malaiya and Su (SUNY-Binghamton), Soden and Hawkins (Sandia Labs and the University of New Mexico), Jacomino and co-workers (Laboratoire d'Automatique de Grenoble), and Maly and co-workers (Carnegie Mellon University). Interest in IDDQ testing has advanced beyond the data reported in the 1980s and is now focused on applications and evaluations involving larger volumes of ICs that improve quality beyond what can be achieved by previous conventional means. In the conventional style of testing one attempts to propagate the logic states of the suspended nodes to primary outputs. This is done for all or most nodes of the circuit. For sequential circuits, in particular, the complexity of finding suitable tests is very high. In comparison, the IDDQ test does not observe the logic states, but measures the integrated current that leaks through all gates. In other words, it is like measuring a patient's temperature to determine the state of health. Despite perceived advantages, during the years that followed its initial announcements, skepticism about the practicality of IDDQ testing prevailed. The idea, however, provided a great opportunity to researchers. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported. After a decade of research, we are definitely closer to practice.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 132 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9780792393153

Titre
IDDQ Testing of VLSI Circuits
Auteur
Ravi K. Gulati
Éditeur
Springer, Springer Dez 1992
Année de publication
1992
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0792393155
ISBN à 13 chiffres
9780792393153
Poids de l'article
460 grammes
Dimensions
260x183x13 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Frais d'expédition de Allemagne vers Etats-Unis

Article60 à 60 jours ouvrés60 à 60 jours ouvrés
Premier articleEUR 60,00EUR 75,00
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Chèque
  • Paypal

Description de la boutique

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Spécialité

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Profil professionnel du vendeur

buchversandmimpf2000

Allemagne