INTEGRATED CIRCUIT METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL VI

Edité par SPIE - The International Society for Optical Engineering, Bellinghman, WA, 1992

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697 pages in very good condition. SPIE Proceedings Series Volume 1673. Pages are clean and unmarked with black and white diagrams and illustrations throughout. Page edges are lightly smudged. Bound in yellow wraps with black titles. Lightly wrinkled and smudged on the spine, light wear around the edges. VG Size: 8 1/2 x 11.

N° de réf. du vendeur 232184

Détails bibliographiques

Titre
INTEGRATED CIRCUIT METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL VI
Auteur
Postek, Michael T. (editor)
Éditeur
SPIE - The International Society for Optical Engineering, Bellinghman, WA
Année de publication
1992
État de l'article
Very Good
Type de livre
Book
Reliure
Soft cover
Catalogues du vendeur
Science

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Music, Military, Religion, Philosophy, Photography, Law, Science, History, Architecture, Art, Exploration, Nautical, general fiction, Literature, Cooking, Medicine, Americana, Canadiana