Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)

Livre 4 sur 4: Electronic Packaging

Lall, Pradeep, Pecht, Michael, Hakim, Edward B.

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Edité par CRC Press, 1997
Langue: anglais
Etat : Occasion - Comme neuf Couverture rigide

Vendu par Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni

Vendeur AbeBooks depuis 15 avril 2021

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Comme neuf

Prix:
EUR 116,71
Expédition à EUR 28,91
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier