Introduction to X-Ray Spectrometric Analysis

Langue : anglais

Edité par Springer US, Springer Mär 1978, 1978

0306310910 / 9780306310911

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Livre broché

Etat: Neuf

EUR 160,49

EUR 60,00 expédition 
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

A propos de cet article

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -X-ray fluorescence spectrometry has been an established, widely practiced method of instrumental chemical analysis for about 30 years. However, although many colleges and universities offer full-semester courses in optical spectrometric methods of instrumental analysis and in x-ray dif fraction, very few offer full courses in x-ray spectrometric analysis. Those courses that are given are at the graduate level. Consequently, proficiency in this method must still be acquired by: self-instruction; on-the-job training and experience; 'workshops' held by the x-ray instrument manu facturers; the one- or two-week summer courses offered by a few uni versities; and certain university courses in analytical and clinical chemistry, metallurgy, mineralogy. geology, ceramics. etc. that devote a small portion of their time to applications of x-ray spectrometry to those respective disciplines. Moreover, with all due respect to the books on x-ray spectrometric analysis now in print, in my opinion none is really suitable as a text or manual for beginners in the discipline. In 1968, when I undertook the writing of the first edition of my previous book, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis,\* my objective was to provide a student text. However, when all the material was compiled, I decided to provide a more comprehensive book, which was also lacking at that time. Although that book explains principles, instrumentation, and methods at the begin ner's level, this material is distributed throughout a mass of detail and more advanced material.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 504 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780306310911

Titre
Introduction to X-Ray Spectrometric Analysis
Auteur
Eugene P. Bertin
Éditeur
Springer US, Springer Mär 1978
Année de publication
1978
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0306310910
ISBN à 13 chiffres
9780306310911
Poids de l'article
723 grammes
Dimensions
229x152x28 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Frais d'expédition de Allemagne vers Etats-Unis

Article60 à 60 jours ouvrés60 à 60 jours ouvrés
Premier articleEUR 60,00EUR 75,00
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Chèque
  • Paypal

Description de la boutique

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Spécialité

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Profil professionnel du vendeur

buchversandmimpf2000

Allemagne