Journey to Data Quality

Wang, Richard Y.,Funk, James D.,Pipino, Leo L.,Lee, Yang W.

ISBN 10: 0262122871 ISBN 13: 9780262122870
Edité par The MIT Press, 2006
Langue: anglais
Etat : Occasion - Satisfaisant Couverture rigide

Vendu par Bookmans, Tucson, AZ, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 30 avril 2007

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