Journey to Data Quality

Langue : anglais

Edité par MIT Press, Cambridge, MA, U.S.A., 2006

0262122871 / 9780262122870

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A propos de cet article

Dust jacket encased in Brodart protector. 226 pages. Size: 8vo - over 7¾" - 9¾" tall.

N° de réf. du vendeur 13975

Titre
Journey to Data Quality
Auteur
Yang, W. Lee, Leo L. Pipino, James D. Funk & Richard Y. Wang
Éditeur
MIT Press, Cambridge, MA, U.S.A.
Année de publication
2006
État de l'article
Very Good Plus
Jaquette
Very Good Plus
Reliure
Hardcover
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0262122871
ISBN à 13 chiffres
9780262122870
Édition
Second Printing.
Catalogues du vendeur
Science & Technology

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Spécialité

Architecture, Military History, History, Americana, General Antiquarian & General non-fiction.