LSI/VLSI Testability Design.
Tsui, Frank F.
Edité par McGraw-Hill New York, 1986
Ancien(s) ou d'occasion
Couverture souple
Vendeur
Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Vendeur AbeBooks depuis 3 mai 2002
Membre d'association :
Nous sommes désolés, cet exemplaire spécifique n'est plus disponible. Voici nos correspondances les plus proches pour LSI/VLSI Testability Design. de Tsui, Frank F..
A propos de cet article
Description :
701 S. Sehr guter Zustand/ very good Ex-Library. With ill. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 811 Paperback/ broschiert broschiert/ Taschenbuch. N° de réf. du vendeur 465085
Détails bibliographiques
Titre : LSI/VLSI Testability Design.
Éditeur : McGraw-Hill New York
Date d'édition : 1986
Reliure : Couverture souple
Etat : Sehr gut
Meilleurs résultats de recherche sur AbeBooks
Image d'archives
Lsi/Vlsi Testability Design
Edité par
McGraw-Hill, 1987
ISBN 10 : 0070653410
ISBN 13 : 9780070653412
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
hardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! N° de réf. du vendeur S_428413124
Quantité disponible : 1 disponible(s)