Model Checking and Artificial Intelligence : 6th International Workshop, Mochart 2010, Atlanta, Ga, USA, July 11, 2010, Revised Selected and Invited Papers

Van Der Meyden, Ron (EDT); Smaus, Jan-Georg (EDT)

ISBN 10: 3642206735 ISBN 13: 9783642206733
Edité par Springer, 2011
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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